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↑(58)Ni(p,γ)↑(59)Cu反应的天体热核反应率 期刊论文
兰州大学学报(自然科学版), 1991, 期号: 1, 页码: 35-40
Authors:  刘绍湘;  刘兆远;  马树勋;  蔡晓红;  柳纪虎;  冯嘉祯
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~(58)Ni(p,γ)~(59)Cu反应  厚靶  产额  热核反应率  
质子轰击Dy和Ho引起的L-亚壳层电离 期刊论文
原子与分子物理学报, 1989, 期号: 3, 页码: 1068-1072
Authors:  刘兆远;  蔡晓红;  马树勋;  柳纪虎;  冯嘉祯;  刘绍湘
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亚壳层:8450  质子轰击:4024  电离截面:2585  现代物理:1159  R理论:1057  能谱:950  兰州大学:880  入射质子:774  产生截面:710  荧光产额:676  
铝、钛和镍在250—430Kev质子轰击下产生的K壳层特征X射线 期刊论文
原子与分子物理学报, 1986, 期号: 3, 页码: 175-180
Authors:  刘兆远;  马树勋;  刘绍湘;  张之津;  柳纪虎;  蔡小红;  冯嘉祯
Favorite  |    Submit date:2016/07/18
K壳层:6762  特征X射线:5072  质子轰击:4380  现代物理:1472  X射线产生:1360  厚靶:1357  钛:1038  电离截面:1023  兰州大学:838  探测器:817  
0.4—3.0Mev质子引起的Ta;Au和Bi的L壳X射线研究 期刊论文
原子与分子物理学报, 1988, 期号: 4, 页码: 886-896
Authors:  刘兆远;  马树勋;  董发运;  刘绍湘;  蔡晓红;  柳纪虎;  冯嘉祯;  张之津
Favorite  |    Submit date:2016/07/18
X射线:9533  产生截面:2796  强度比:1001  质子轰击:487  计算值:154  薄靶:138  实验数据:46  金硅面垒探测器:39  理论模型:36  实验结果:28  
多级倍压整流电路的设计原理及其有关参数的计算方法 期刊论文
半导体技术, 1992, 期号: 4, 页码: 46-48
Authors:  柳纪虎;  刘昶丁;  刘永生
Favorite  |    Submit date:2016/07/18
多级倍压整流:6468  倍压整流电路:4074  纹波电压:3278  设计原理:2968  有关参数:2297  倍压电路:2275  多倍压整流:2009  输出电压:1718  计算方法:1672  整流元件:1322  
用质子激发X射线荧光法测定食品中的微量元素 期刊论文
中华预防医学杂志, 1990, 卷号: 24, 期号: 4, 页码: 223
Authors:  马树勋;  刘兆远;  刘正民;  杨坤山;  柳纪虎;  敬小春;  马志辉;  李兰亭;  葛泽树;  王连宾...马树勋;  刘兆远;  刘正民;  杨坤山;  柳纪虎;  敬小春;  马志辉;  李兰亭;  葛泽树;  王连宾
Favorite  |    Submit date:2016/09/19
直流矫顽力法检查钢件热处理质量的研究 期刊论文
实验技术与管理, 1991, 期号: 3, 页码: 60-62
Authors:  刘昶丁;  柳纪虎;  刘永生
Adobe PDF(174Kb)  |  Favorite  |    Submit date:2015/04/27
矫顽力:6919  热处理质量:3904  表面硬化层深度:2464  剩余磁感应强度:2346  钢件:2299  磁化场:2148  铁磁介质:2142  硬度:2132  直流:1855  电磁铁:1676  
用“冲击电流计测高电阻”实验的改进 期刊论文
大学物理, 1987, 期号: 9, 页码: 46-48
Authors:  刘征;  刘昶丁;  柳纪虎
Adobe PDF(182Kb)  |  Favorite  |    Submit date:2015/04/27
冲击电流计:6790  测高:4719  与非门:2978  触发器:2798  漏电阻:2226  电子线路:1623  放电时间:1461  秒表:1357  吸合:1310  记数:1273  
_冲击电流计测高电阻_实验的改进 期刊论文
实验技术与管理, 1987, 期号: 2, 页码: 52-54
Authors:  刘征;  刘昶丁;  柳纪虎
Adobe PDF(182Kb)  |  Favorite  |    Submit date:2015/04/27
冲击电流计:6137  电子线路:3804  高电阻:3424  控制器:3394  基本内容:2518  触发器:2147  电磁学实验:2114  与非门:1996  数据误差:1614  放电时间:1610  
标准电池内阻增高的修复方法 期刊论文
物理实验, 1992, 期号: 4, 页码: 202
Authors:  柳纪虎;  刘昶丁
Favorite  |    Submit date:2016/07/18
标准电池内阻:7977  电动势:3049  电压标准:2287  修复方法:2116  实验室:2085  故障:1854  管理不当:1728  长期使用:1703  无穷大:1616  科研:1027